Русскоязычная версия / English language version / Русский+English

EMMM 2007
3-7.09.2007

Institute of Crystallography, Moscow
Институт кристаллографии Российской Академии Наук, Москва
Deadline for submission of abstracts has been extended to the 25-th May. We will not be able to accept abstracts submitted after May 25.

Welcome to Electron Microscopy and Multiscale Modeling 2007! Добро пожаловать на конференцию по электронной микроскопии и многомасштабному моделированию!

EMMM2007 is an interdisciplinary meeting bringing together experts from several areas of modern crystallography and materials science. It will focus on the link between methods of interrogating structures at the nano- and meso-scale using electron microscopy and diffraction, and the rapidly expanding field of multiscale materials modeling

Working language of EMMM-2007 is English.

На конференцию EMMM2007 соберутся специалисты по различным областям современной кристаллографии и материаловедения из разных стран. Основная тема обсуждения — взаимосвязь методов изучения структуры вещества на нано- и мезомасштабах с использованием электронной микроскопии и дифрактометрии, и быстро-развивающегося научного направления многомасштабного структурного моделирования.

Рабочий язык конференции — английский.

 
HREM image of opened end of carbon nanotube with the conical walls.
ВРЭМ-изображение открытого окончания углеродной нанотрубки с коническими стенками.
  Recent large scale atomistic simulation of a dislocation loop in magnetic body-centered cubic iron.
Расчёт на атомном уровне дислокационной петли в объёмно-центрированном кристалле ферромагнитного железа.

The conference is supported by / Конференция поддерживается

Sponsors / Спонсоры конференции